局部放電的電氣檢測(cè)法是在定的電壓條件下，當(dāng)設(shè)備的絕緣結(jié)構(gòu)被腐蝕時(shí)，測(cè)試由試品局部放電所引起的高頻電流脈沖信號(hào)。因?yàn)檫@類干擾信號(hào)會(huì)經(jīng)常出現(xiàn)不固定的相位，和局部放電信號(hào)的波形也非常相似，所以是最難以去除的一類干擾信號(hào)。此類干擾的特點(diǎn)是：在時(shí)域上表現(xiàn)為脈沖信號(hào)，且持續(xù)時(shí)間非常短暫；而在頻域上表現(xiàn)為寬帶信號(hào)，含多鐘頻率成分。

1. 可控硅元件動(dòng)作引起的干擾
引起此類干擾的原因是：在供電設(shè)備中，存在可控硅元件在工作。可控硅干擾擾是一種最強(qiáng)的干擾源，其干擾的大小和所用可控硅的功率息息相關(guān)。此類干擾波形的特點(diǎn)是：在橢圓基線上，每個(gè)元件都會(huì)產(chǎn)生一個(gè)與之相應(yīng)的高頻電流脈沖信號(hào)，信號(hào)的位置是固定的，且所占的比重比較大、因?yàn)楫?dāng)電路被接通時(shí)，信號(hào)的波形會(huì)變寬，幅值會(huì)增大，電磁耦合效應(yīng)將會(huì)增強(qiáng)。

2. 異步電機(jī)引起的干擾
引起此類干擾的原因是：在檢測(cè)回路中有耦合的異步電機(jī)在運(yùn)行。此類干擾波形的特點(diǎn)是：在橢圓正、負(fù)半周上對(duì)稱的出現(xiàn)兩組信號(hào)，且沿橢圓基線逆掃描方向移動(dòng)。

3. 熒光燈引起的干擾
此類干擾波形的特點(diǎn)是：在橢圓墓線的正、負(fù)半周上，對(duì)稱分布出現(xiàn)欄柵狀的二簇脈沖組，且信號(hào)的幅值大小基本相等。如圖所示：(1)為單個(gè)可控硅元件動(dòng)作產(chǎn)生的干擾；(2)為6極水銀整流器產(chǎn)生的干擾，它和可控硅動(dòng)作產(chǎn)生的干擾波形作常相似；(3)為旋轉(zhuǎn)電機(jī)產(chǎn)生的干擾；(4)為熒光燈工作引起的干擾。